基于语义强度分层的SCD二次虚回路检查系统及方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

基于语义强度分层的SCD二次虚回路检查系统及方法

基本信息

申请号	CN201710691679.7	申请日	-
公开（公告）号	CN109388838A	公开（公告）日	2019-02-26
申请公布号	CN109388838A	申请公布日	2019-02-26
分类号	G06F17/50	分类	计算；推算；计数;
发明人	高翔	申请（专利权）人	福建福毅永帆信息科技有限公司
代理机构	上海科盛知识产权代理有限公司	代理人	宣慧兰
地址	201204 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区毕升路299弄10号一楼
法律状态	-

摘要

本发明涉及一种基于语义强度分层的SCD二次虚回路检查系统及方法，该系统包括：基于IEC61850标准的第一检查模块：该模块解析SCD文件得到IED静态模型，并对IED静态模型进行SCD语义检查；基于SCD规范的第二检查模块：该模块符合SCD语义检查规则的IED静态模型进行IED属性规范检查；基于Q/GDW 1396规范的第三检查模块：该模块对符合IED属性规范的IED静态模型进行IED配置检查；基于Q/GDW 1161和Q/GDW 1175规范的第四检查模块：该模块对符合IED配置检查规则的IED静态模型进行二次虚回路检查，进而输出二次虚回路检查结果。现有技术相比，本发明检查结果可靠，检查效率高。