一种透镜畸变参数的标定方法
基本信息
| 申请号 | CN02156701.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN1220866C | 公开（公告）日 | 2005-09-28 |
| 申请公布号 | CN1220866C | 申请公布日 | 2005-09-28 |
| 分类号 | G01M11/02 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张广军;贺俊吉;杨宪铭 | 申请（专利权）人 | 北京中自邦柯科技有限公司 |
| 代理机构 | 中国航空专利中心 | 代理人 | 梁瑞林 |
| 地址 | 100083北京市海淀区学院路37号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明属于测量技术领域，涉及对透镜畸变参数标定方法的改进。本发明的标定步骤是：放置靶标—(2)拍摄靶标图象--(3)获取特征点的坐标—计算特征点的交比值CR—获取xia，xib，xic，xid，yia，yib，yic，yid的表达式—求取畸变参数k1，k2。本发明方法算法简单，需要的已知条件少，容易实现，标定精度高，校正效果好。 |
