一种动态测试数据的收集和处理方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN202210098677.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114490819A | 公开（公告）日 | 2022-05-13 |
| 申请公布号 | CN114490819A | 申请公布日 | 2022-05-13 |
| 分类号 | G06F16/2458（2019.01）I;H04L69/22（2022.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 叶玲玲;郜建政 | 申请（专利权）人 | 上海芯旺微电子技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海唯智赢专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 200120上海市浦东新区龙东大道3000号张江集电港1幢9楼B区906B室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种动态测试数据的收集和处理方法及系统，属于集成电路芯片数据处理技术领域。本技术方案包括如下步骤：获取至少一个测试设备的基本信息，包括芯片测试的数据类型、数据长度、数据内容以及当前芯片是否NG；所述基本信息按照特定格式组合，并增加帧头信息、校验及帧尾信息，生成测试通信协议帧；所述上位机读取并解析所述测试通信协议帧，完成对所述测试设备信息的查阅、收集及分析；接收量产芯片的测试数据，存储在后台数据库中。本发明能够同时完成对不同的通信数据格式的数据的查阅、收集及分析，实现集成电路行业对芯片质量要求的一致性与结果追踪，并能实现NG分类统计分析，其灵活性强，使用便捷性好，极具应用前景。 |
