局部放电测试用的陶瓷基板固定治具
基本信息
申请号 | CN202121295979.1 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN215198361U | 公开(公告)日 | 2021-12-17 |
申请公布号 | CN215198361U | 申请公布日 | 2021-12-17 |
分类号 | B07C5/344(2006.01)I;B07C5/02(2006.01)I | 分类 | 将固体从固体中分离;分选; |
发明人 | 周轶靓;贺贤汉;王斌;葛荘;顾鑫;吴承侃 | 申请(专利权)人 | 上海富乐华半导体科技有限公司 |
代理机构 | 上海申浩律师事务所 | 代理人 | 陆叶 |
地址 | 200444上海市宝山区山连路181号3幢 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型涉及半导体制造技术领域。局部放电测试用的陶瓷基板固定治具,包括底座,底座包括从下至上设置的电极底座、下弹性层以及下金属片,下金属片设有向下延伸的下延伸条,下延伸条与电极底座接触连接,电极底座的材料是导电材料;还包括盖板,盖板包括从上至下设置的探针盖板、上弹性层以及上金属片,上金属片设有向上延伸的上延伸条,上延伸条与探针盖板接触连接,探针盖板的材料是导电材料;底座与盖板之间用于夹持陶瓷基板。本专利可针对翘曲度较大的覆铜陶瓷基板进行局放测试。通过上金属片实现了金属陶瓷基板孤岛状金属单元导通,实现了一次性测试整片母板,实现了金属陶瓷基板局放高效测试。 |
