一种基于双互补开环的表面传感器的5G双频段介电常数无损测量方法
基本信息
| 申请号 | CN202011533106.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114660365A | 公开（公告）日 | 2022-06-24 |
| 申请公布号 | CN114660365A | 申请公布日 | 2022-06-24 |
| 分类号 | G01R27/26（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王宸;刘小明;齐涛;周忆鑫;甘露 | 申请（专利权）人 | 安徽师范大学 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 241002安徽省芜湖市九华南路189号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种基于双互补开环的表面的双频段5G介电常数无损测量方法。该传感器结构由介质层、微带线层和类双圆环GND层三部分组成，该传感器可实现在通信频率2‑2.8GHz和3.5‑5GHz两个5G频带对各个物体进行介电常数的测量。本发明采用双SMA接口，可直接用矢量网络分析仪接入测量。本发明测量精准度高、测量方便，不会对被测样品造成损耗。同时，本发明还有着体积较小、结构简单，加工成本低、测量范围适配好等优势。本发明所阐述的一种基于互补开环的表面传感器的5G双频段无损介电常数测量方法可以广泛应用于5G通信和5G关键器件制造等领域。 |
