一种高双折射保偏光纤的模式双折射的测量装置和方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种高双折射保偏光纤的模式双折射的测量装置和方法

基本信息

申请号	CN201810860255.3	申请日	-
公开（公告）号	CN108709720A	公开（公告）日	2018-10-26
申请公布号	CN108709720A	申请公布日	2018-10-26
分类号	G01M11/02	分类	测量；测试;
发明人	孟卓;朱佑强;赵保来	申请（专利权）人	天津博科光电科技有限公司
代理机构	天津协众信创知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	天津博科光电科技有限公司
地址	300393 天津市西青区西青汽车工业区中联产业园8号楼201
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种高双折射保偏光纤的模式双折射的测量装置和方法。所述装置包括宽谱光源、起偏器、电光调制器、待测高双折射保偏光纤、检偏器、光电探测器、混频器、数据采集电路和计算机；以及扫频信号源、微波功分器，微波移相器，电光调制器将第一微波信号调制到光线上形成光载微波信号，光载微波信号经待测高双折射保偏光纤后形成两路光程差不同的光载微波信号，两路光程差不同的光载微波信号经光电探测器后输入至混频器的射频输入端，混频器将两路光程差不同的光载微波信号与第二微波信号混频后的中频信号经低通滤波器后的直流信号输入至数据采集电路，数据采集电路将直流信号不同幅值处的频率输入至计算机进行计算。本发明实现了高双折射保偏光纤的模式双折射精确测量的目的。