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一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案

基本信息

申请号	CN202011468447.3	申请日	-
公开（公告）号	CN112611955A	公开（公告）日	2021-04-06
申请公布号	CN112611955A	申请公布日	2021-04-06
分类号	G01R31/28(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	徐欢夏;魏善磊;徐伟	申请（专利权）人	江苏联康信息股份有限公司
代理机构	宿迁嵘锦专利代理事务所（普通合伙）	代理人	陈科行
地址	223700江苏省宿迁市泗阳县经济开发区东区(珠海路29号)
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种用于主板的射频与电路功能测试治具方案，治具分为通用测试夹具、DUT Cartridge和probe面板，原理是在一个屏蔽箱内放置一个通用测试夹具，夹具包含控制板的信号通过PCB转接板的转接针引出提供了一個通用的界面，DUT Cartridge可以通过这个界面将需要的电信号接至DUT进行测试，DUT Cartridge上盖对于一些需要测试射频接口的部分进行避位开窗通过RF Probe连接接触，RF Probe固定在Probe面板上，Probe面板上的RF Probe通过RF Cable连接至屏蔽箱的射频接口，屏蔽箱的射频输出接口连接至射频仪器，以上根据DUT的不同和射频接口的不同只需要更换特定的DUT Cartridge和Probe面板即可，屏蔽箱和通用夹具不需要更换，本发明具有成本低，可靠性高，产线维护容易，体积小，无污染，适用范围广等优点。