一种利用芯片引脚特性测试电路开短路的装置
基本信息
| 申请号 | CN201922116429.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN211402631U | 公开（公告）日 | 2020-09-01 |
| 申请公布号 | CN211402631U | 申请公布日 | 2020-09-01 |
| 分类号 | G01R31/28;G01R31/52;G01R31/54 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 徐欢夏 | 申请（专利权）人 | 江苏联康信息股份有限公司 |
| 代理机构 | 常州佰业腾飞专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 肖玲珊 |
| 地址 | 223700 江苏省宿迁市泗阳县经济开发区东区(珠海路29号) | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种利用芯片引脚特性测试电路开短路的装置，包括测试装置和待测集成电路，测试装置包括DC输入模块、显示模块、稳压电路、微处理器、模数转换器和模拟复用器，待测集成电路包括保护二极管，显示模块和模数转换器连接在微处理器的相应端口上，模拟复用器输入端与待测集成电路的PIN脚连接，模拟复用器输出端与模数转换器的输入端连接，解决了集成电路中每个管脚与VDD和GND都有保护二极管，且保护二极管都是以串列方式存在，当串列中有其中一发光二极管损毁就会发生短路，造成高电流、高电压聚集在集成电路上，会造成整个串列的烧坏，因此需要对集成电路进行测试的问题。 |
