一种高干扰组件的系统级封装方法、结构及分离阵列结构
基本信息
申请号 | CN201610312645.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN107369653A | 公开(公告)日 | 2017-11-21 |
申请公布号 | CN107369653A | 申请公布日 | 2017-11-21 |
分类号 | H01L23/31(2006.01)I;H01L23/552(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I;H01L23/52(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 萧建成 | 申请(专利权)人 | 中电网(北京)电子科技发展有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 100080 北京市海淀区北四环西路67号大地科技大厦1218室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种高干扰组件的系统级封装方法及其封装结构。其中,所述系统级封装方法包括:将组件的电感器和/或天线分离,整合设置为包含多个电感器和/或天线元件的分离阵列;通过低温装配工艺制造所述分离阵列的裸片;依据预设的制程,进行系统级封装。通过独立的分隔IC中的高干扰组件,采用分离阵列的设置,将其设置于单独的裸片中,能够很好的降低生产成本,提供更好的可靠性能。而且,由于占位面积减少,使得最终的封装产品得以小型化,为进一步的集成装配提供了空间。 |
