一种碳化硅晶体的高温二次退火方法
基本信息
申请号 | CN202110459963.8 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113174638A | 公开(公告)日 | 2021-07-27 |
申请公布号 | CN113174638A | 申请公布日 | 2021-07-27 |
分类号 | C30B29/36(2006.01)I;C30B33/02(2006.01)I;C30B23/00(2006.01)N | 分类 | 晶体生长〔3〕; |
发明人 | 黄四江;沙智勇;尹归;刘得伟;段金炽;普世坤;杨海平;王美春;殷云川 | 申请(专利权)人 | 云南临沧鑫圆锗业股份有限公司 |
代理机构 | 昆明祥和知识产权代理有限公司 | 代理人 | 董昆生 |
地址 | 650000云南省昆明市高新区电子工业标准厂房A栋1楼 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明属于碳化硅单晶生长领域,具体公开一种碳化硅晶体的高温二次退火方法,包括以下步骤:装晶体,使用分段式加热程序升温,一阶段升温至1300‑1500℃,二阶段升温至2000℃,然后进行保温,保证温度波动范围在2000±1℃之内,降温:采用阶梯式的降温程序,以每小时降温200W的功率降温10小时,再以每小时降温400W的功率降温10小时;用10小时把功率降到0,晶体在晶炉中经24小时充分冷却后取出,该碳化硅高温二次退火的工艺采用升温、保温、降温的三段式,可更好的释放应力和避免应力进一步发展,而且控温能精确的把温度控制在保温所需的温度要求;在降温阶段通过分阶段冷却保证高温降温慢,低温降温快,减少用时的同时避免应力释放后又重新生成。 |
