分析光纤用高纯四氯化硅产品金属元素含量时的取样方法
基本信息
| 申请号 | CN201210010910.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN102539197A | 公开（公告）日 | 2012-07-04 |
| 申请公布号 | CN102539197A | 申请公布日 | 2012-07-04 |
| 分类号 | G01N1/10(2006.01)I;G01N1/34(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 何寿林;罗全安 | 申请（专利权）人 | 武汉新硅科技有限公司 |
| 代理机构 | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 | 代理人 | 武汉新硅科技有限公司 |
| 地址 | 436070 湖北省鄂州市葛店开发区1号工业区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及高纯四氯化硅产品的取样方法，具体涉及一种分析光纤用高纯四氯化硅产品金属元素含量时的取样方法,该方法依次包含清洗取样瓶、烘干取样瓶、取样瓶取样、金属元素杂质富集四个步骤。 |
