光纤用高纯四氯化硅产品含氢杂质检测系统
基本信息
| 申请号 | CN201220026256.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN202583063U | 公开（公告）日 | 2012-12-05 |
| 申请公布号 | CN202583063U | 申请公布日 | 2012-12-05 |
| 分类号 | G01N21/35(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 何寿林;罗全安 | 申请（专利权）人 | 武汉新硅科技有限公司 |
| 代理机构 | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 | 代理人 | 武汉新硅科技有限公司;武汉新硅科技潜江有限公司 |
| 地址 | 436070 湖北省鄂州市葛店开发区1号工业区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及光纤用高纯四氯化硅产品检测系统，特别是光纤用高纯四氯化硅产品含氢杂质检测系统，其不同之处为：其包括取样盘、RT-IR分析仪、固定在RT-IR分析仪上的样品分析检测池，样品分析检测池包括池身、位于池身两端的压紧密封盖，压紧密封盖的内侧设置有透过窗片，池身的一个接口连接至取样盘中的分布管，分布管用于接收待分析料液或高纯氮气，池身另一接口连接至液体收集罐。本实用新型分析结果准确、结构简单。 |
