一种微波探头源探距离确定方法及系统
基本信息
申请号 | CN201510248818.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN105044132B | 公开(公告)日 | 2019-11-12 |
申请公布号 | CN105044132B | 申请公布日 | 2019-11-12 |
分类号 | G01N22/00(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 张在阳 | 申请(专利权)人 | 深圳市太赫兹科技有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山社区松坪山朗山二路5号洁净阳光园办公楼4层402室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及一种微波探头源探距离确定方法及系统,步骤如下:A:获取光通量对于吸收系数在微波发生源和微波探测器的间距较大时的灵敏度;B:获取光通量对于散射系数在源探间距较大时的灵敏度;C:获取A步骤灵敏度和B步骤灵敏度的比值M;D:当表面光通量独立于,灵敏度比值的绝对值值最小时,表面光通量相对于散射系数的灵敏度最低,而对于吸收系数的灵敏度最高,此时背景散射对目标浓度吸收光谱的测量影响最小,即可得到最佳源探间距。本发明一种微波探头源探距离确定方法及系统,可以精确确定微波探头中微波发生源、微波探测器的最佳距离,提高使用效果。 |
