高耐压MEMS封装载板及其制作工艺

基本信息

申请号 CN202111447442.7 申请日 -
公开(公告)号 CN114206001A 公开(公告)日 2022-03-18
申请公布号 CN114206001A 申请公布日 2022-03-18
分类号 H05K1/16(2006.01)I;H05K3/42(2006.01)I;H05K3/46(2006.01)I;B81B7/00(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I 分类 其他类目不包含的电技术;
发明人 马洪伟;刘浩 申请(专利权)人 江苏普诺威电子股份有限公司
代理机构 昆山中际国创知识产权代理有限公司 代理人 孙海燕
地址 215300江苏省苏州市昆山市千灯镇宏洋路318号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种高耐压MEMS封装载板及其制作工艺,所述制作工艺包括如下步骤:开料、内层线路:进行压干膜、曝光、显影、蚀刻和退膜处理、压合、机械钻孔、镭射钻孔及填孔、外层线路:进行压干膜、曝光、显影、蚀刻和退膜处理、阻焊和成型;通过上述制作工艺得到的埋容四层板具有相互串联的双层电容层,因此解决了使用超高电容密度材料造成成品PCB存在耐电压不足而导致击穿短路的风险,增强PCB的耐高压能力、极大增强了产品信耐性能力。