高耐压MEMS封装载板及其制作工艺
基本信息
申请号 | CN202111447442.7 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114206001A | 公开(公告)日 | 2022-03-18 |
申请公布号 | CN114206001A | 申请公布日 | 2022-03-18 |
分类号 | H05K1/16(2006.01)I;H05K3/42(2006.01)I;H05K3/46(2006.01)I;B81B7/00(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I | 分类 | 其他类目不包含的电技术; |
发明人 | 马洪伟;刘浩 | 申请(专利权)人 | 江苏普诺威电子股份有限公司 |
代理机构 | 昆山中际国创知识产权代理有限公司 | 代理人 | 孙海燕 |
地址 | 215300江苏省苏州市昆山市千灯镇宏洋路318号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及一种高耐压MEMS封装载板及其制作工艺,所述制作工艺包括如下步骤:开料、内层线路:进行压干膜、曝光、显影、蚀刻和退膜处理、压合、机械钻孔、镭射钻孔及填孔、外层线路:进行压干膜、曝光、显影、蚀刻和退膜处理、阻焊和成型;通过上述制作工艺得到的埋容四层板具有相互串联的双层电容层,因此解决了使用超高电容密度材料造成成品PCB存在耐电压不足而导致击穿短路的风险,增强PCB的耐高压能力、极大增强了产品信耐性能力。 |
