一种用于标准单元数据的分析方法
基本信息
| 申请号 | CN202110285282.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113065294A | 公开（公告）日 | 2021-07-02 |
| 申请公布号 | CN113065294A | 申请公布日 | 2021-07-02 |
| 分类号 | G06F30/30 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 徐峰;于威;甘振华;刘圆;孙凌 | 申请（专利权）人 | 上海天数智芯半导体有限公司 |
| 代理机构 | 南京钟山专利代理有限公司 | 代理人 | 刘林峰 |
| 地址 | 201100 上海市闵行区陈行公路2388号3幢101-5室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种用于标准单元数据的分析方法，该标准单元数据分析方法将标准单元库文件解析为单行全信息格式；利用单行全信息格式并结合输入参数通过插值法得到标准单元数据，并根据需要对标准单元在本发明方法中得到的标准单元数据进行单一工艺角下的评价或多工艺角下的评价,从而筛选出更优异的标准单元。本发明通过改写数据格式使得数据的查找和处理更为高效；同时通过对标准单元参数进行多维度评分，能筛选出更适合设计的标准单元。在实际设计中实现了更优秀的时序和更低的功耗。 |
