芯片表面缺陷的检测方法、装置及计算机可读存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202210296614.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114693626A | 公开（公告）日 | 2022-07-01 |
| 申请公布号 | CN114693626A | 申请公布日 | 2022-07-01 |
| 分类号 | G06T7/00（2017.01）I;G06T7/13（2017.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 谢煜;何岗 | 申请（专利权）人 | 深圳市亿图视觉自动化技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙岗区吉华街道水径社区吉华路399号红门工业园一期C栋403 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请适用于芯片检测技术领域，提供了一种芯片表面缺陷的检测方法、装置及计算机可读存储介质。该方法通过获取待检测芯片的多个原始图像，并确定原始图像的第一清晰度；以及确定原始图像的边缘区域，并确定边缘区域的第二清晰度；且根据第一清晰度和第二清晰度确定第三清晰度，从而从多个原始图像中确定第三清晰度较高的待处理图像，由于第三清晰度综合了第一清晰度和第二清晰度，因此第三清晰度高的待处理图像中边缘区域和原始图像均清晰。后续根据待处理图像确定的目标图像中边缘区域的裂痕也比较明显，因此对目标图像检测时容易检测到边缘区域的裂痕，防止漏检。 |
