首页/ 中派科技（深圳）有限责任公司/ 专利详情

用于测量高能光子到达时间的方法及装置

基本信息

申请号 CN201611004839.8 申请日 -
公开（公告）号 CN106443747B 公开（公告）日 2020-05-29
申请公布号 CN106443747B 申请公布日 2020-05-29
分类号 G01T1/00;H05G1/26 分类 测量；测试;
发明人 龚政;赵指向;许剑锋;翁凤花;黄秋 申请（专利权）人 中派科技（深圳）有限责任公司
代理机构 北京睿邦知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 中派科技（深圳）有限责任公司;武汉中派科技有限责任公司
地址 518063 广东省深圳市南山区科技南十二路18号长虹科技大厦903
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种用于测量高能光子到达时间的方法和装置。该方法包括：获取与光电传感器阵列中的每个传感器单元所检测到的、高能光子与闪烁晶体发生反应所产生的可见光子相关的到达时间，其中，闪烁晶体是连续晶体，光电传感器阵列包括与闪烁晶体耦合的多个传感器单元；至少基于与光电传感器阵列中的每个传感器单元所检测到的可见光子相关的到达时间，获得与光电传感器阵列中的选定的至少部分传感器单元中的每一个分别对应的待平均时间；以及对与至少部分传感器单元中的每一个分别对应的待平均时间求平均，以获得高能光子的到达时间。根据本发明实施例的方法和装置，通过对针对多个传感器单元获得的待平均时间求平均，可以获得较高的时间分辨率。