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用于正电子发射成像设备的检测器及正电子发射成像设备

基本信息

申请号	CN201810093454.6	申请日	-
公开（公告）号	CN108508474B	公开（公告）日	2022-01-21
申请公布号	CN108508474B	申请公布日	2022-01-21
分类号	G01T1/20（2006.01）I;G01T1/202（2006.01）I;G01T1/29（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	张熙;谢思维;杨静梧;赵指向;翁凤花;黄秋;彭旗宇	申请（专利权）人	中派科技（深圳）有限责任公司
代理机构	北京睿邦知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	徐丁峰;付伟佳
地址	518063广东省深圳市南山区科技南十二路18号长虹科技大厦903
法律状态	-

摘要

本发明提供一种用于正电子发射成像设备的检测器及正电子发射成像设备。检测器包括闪烁晶体模块以及光电传感器阵列，闪烁晶体模块包括多个筒状闪烁晶体片单元，每一筒状闪烁晶体片单元具有通孔，多个筒状闪烁晶体片单元具有不同的通孔尺寸，多个筒状闪烁晶体片单元沿厚度方向套设，套设所形成的闪烁晶体模块具有上端面、下端面和由上端面贯穿至下端面的贯穿孔，贯穿孔用于容纳待成像对象。光电传感器阵列耦合在闪烁晶体模块的上端面或/和闪烁晶体模块的下端面，用于检测伽玛光子与闪烁晶体模块发生反应所产生的可见光子，其中，伽玛光子通过在待成像对象体内发生的正电子湮灭效应产生。该检测器加工难度低，组装简单，且具备较高的DOI解码精度及位置解码能力。