用于正电子发射成像设备的检测器及正电子发射成像设备
基本信息
| 申请号 | CN201711361772.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108562928B | 公开（公告）日 | 2022-01-21 |
| 申请公布号 | CN108562928B | 申请公布日 | 2022-01-21 |
| 分类号 | G01T1/29（2006.01）I;G01T1/164（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张熙;谢思维;杨静梧;赵指向;黄秋;彭旗宇 | 申请（专利权）人 | 中派科技（深圳）有限责任公司 |
| 代理机构 | 北京睿邦知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 徐丁峰;付伟佳 |
| 地址 | 518063广东省深圳市南山区科技南十二路18号长虹科技大厦903 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种检测器和具有该检测器的发射成像设备。检测器包括闪烁晶体模块以及光电传感器阵列，闪烁晶体模块包括多个片状闪烁晶体单元，每一所述片状闪烁晶体单元具有通孔，多个片状闪烁晶体单元轴向堆积以形成所述闪烁晶体模块，堆积所形成的所述闪烁晶体模块具有内壁、外壁和贯穿孔，所述贯穿孔用于容纳待成像对象。光电传感器阵列耦合在所述闪烁晶体模块的内壁或/和所述闪烁晶体模块的外壁，用于检测伽玛光子与所述闪烁晶体模块发生反应所产生的可见光子，其中，所述伽玛光子通过在所述待成像对象体内发生的正电子湮灭效应产生。该检测器加工难度低，组装简单，且具备较高的DOI解码精度及位置解码能力。 |
