一种基于不良Map图的缺陷模式分析方法
基本信息
| 申请号 | CN202011088439.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112184691A | 公开（公告）日 | 2021-01-05 |
| 申请公布号 | CN112184691A | 申请公布日 | 2021-01-05 |
| 分类号 | G06T7/00(2017.01)I;G06K9/62(2006.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 谢箭;赵文政;刘林平 | 申请（专利权）人 | 上海喆塔信息科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 200120上海市浦东新区自由贸易试验区祖冲之路1505弄100号3幢3层H单元 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 此发明公开了一种基于不良Map图的缺陷模式分析方法，涉及智能制造与人工智能技术领域。此发明对显示面板的不良归类分析，构造了一种基于DBSCAN密度聚类的方法，将不良信息快速定位到不良类型中，解决了现有方式存在效率较低、易遗漏某些因素、难于找到真正缺陷模式多种类的技术问题，能够快速且准确实现找到复杂缺陷种类的技术效果。同时解决了现有划分方法速度慢精度低不便于大数据分析的问题，此发明中的方法更适合大数据计算和自动化分析，精度高，速度快，是一种高效准确的自动缺陷分类方法。 |
