一种用于半导体测试的晶片作表面清理装置

基本信息

申请号 CN202020624465.5 申请日 -
公开(公告)号 CN212883677U 公开(公告)日 2021-04-06
申请公布号 CN212883677U 申请公布日 2021-04-06
分类号 B08B3/02(2006.01)I;B08B1/02(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I;B08B13/00(2006.01)I 分类 清洁;
发明人 曹镭 申请(专利权)人 浙江金连接科技股份有限公司
代理机构 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 代理人 张淼
地址 314000浙江省嘉兴市经济技术开发区禾平街食品标准厂房园区12#厂房
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种用于半导体测试的晶片作表面清理装置,包括工作台,所述工作台底部两侧均固定连接有支撑板,所述工作台顶部两侧均固定连接有挡板,所述工作台顶部于两个挡板之间放置有过滤网,两个所述挡板之间固定连接有横杆,所述横杆外活动套设有套管,所述套管顶部固定连接有蓄水箱,所述蓄水箱两侧底部均固定连接有排水管,所述排水管底部固定连接有喷淋管道,所述套管底部固定连接有电动推杆,所述电动推杆底部于两个喷淋管道下方固定连接有毛刷板,所述毛刷板底部设有刷毛,所述毛刷板上开设有多个漏孔。本实用新型能在清理的同时使用清洗液冲洗,清理效果好,便于晶片的固定,清理时稳定不晃动,提高清理的效率。