一种用于SoC芯片的跟踪调试信息处理电路及方法

基本信息

申请号 CN202011553862.9 申请日 -
公开(公告)号 CN112612667A 公开(公告)日 2021-04-06
申请公布号 CN112612667A 申请公布日 2021-04-06
分类号 G06F11/26(2006.01)I;G06F13/362(2006.01)I 分类 计算;推算;计数;
发明人 王粟;肖佐楠;郑茳 申请(专利权)人 天津国芯科技有限公司
代理机构 天津企兴智财知识产权代理有限公司 代理人 苏冲
地址 300457天津市滨海新区开发区第四大街80号天大科技园软件大厦北楼306室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种用于SoC芯片的跟踪调试信息处理电路及方法,包括以下步骤:S1:跟踪调试信息产生单元将高速跟踪调试数据流发送给跟踪调试信息处理电路;S2:通过控制总线接口将控制信息输入跟踪调试信息处理电路中;S3:跟踪调试信息处理电路将并行的高速跟踪调试数据流转换为标准的PLB6片内总线主设备接口协议;S4:将跟踪调试信息处理电路连接至主设备芯片内的PLB6总线上,将转换后的高速跟踪调试数据流发送至PLB6总线传输矩阵上;S5:通过PLB6总线协议将高速跟踪调试数据流发送至与PLB6总线相连的其他从设备中。本发明所述的一种用于SoC芯片的跟踪调试信息处理电路及方法解决了现有高速跟踪调试信息的处理方法信息处理不及时的问题。