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阵列光敏电阻激光准直变形测量方法及其装置

基本信息

申请号 CN201510168078.9 申请日 -
公开（公告）号 CN104964647A 公开（公告）日 2015-10-07
申请公布号 CN104964647A 申请公布日 2015-10-07
分类号 G01B11/02(2006.01)I;G01B11/16(2006.01)I;G01C9/00(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 李跃伟;曹亚萍 申请（专利权）人 贵州宏信达高新科技有限责任公司
代理机构 贵阳中新专利商标事务所 代理人 刘楠;李余江
地址 550081 贵州省贵阳市白云区沙文镇沙文工业园高海路949号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种阵列光敏电阻激光准直变形测量方法机器装置，它是先确定基准点（1）和测点（2），在基准点（1）设置一个用于向固定方向发射激光的激光模组（3），在测点（2）上设置一个阵列光敏电阻位移传感器（4）；通过激光模组（3）向测点（2）发射激光形成一条稳定的基准线，激光在所述阵列光敏电阻位移传感器（4）上留下一个稳定的光斑；通过激光光斑影响区间换算出激光光斑中心点；通过激光光斑中心点在阵列光敏电阻位移传感器（4）上的刻度变化，识别目标对象在阵列光敏电阻方向的位移变化。它可实现对目标体相对于基准线的位移监测，从而实现变形监测领域中的水平位移、垂直位移、倾斜和扰度等多种监测项目。