一种适用于热像仪快速定量化处理的辐射定标方法
基本信息
| 申请号 | CN202010193260.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113494963A | 公开（公告）日 | 2021-10-12 |
| 申请公布号 | CN113494963A | 申请公布日 | 2021-10-12 |
| 分类号 | G01J5/00（2006.01）I;G01J5/08（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李军伟;周剑鹏;孙宪中 | 申请（专利权）人 | 浙江巍宇光电科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海宏京知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 周高 |
| 地址 | 321200浙江省金华市武义县武江大道316号武义科技城科技创新大楼5楼5011 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种适用于热像仪快速定量化处理的辐射定标方法，涉及红外测试领域，所述方法包括步骤1：根据普朗克公式将黑体温度转化为黑体辐射亮度；步骤2：读取不同黑体温度条件下，探测器接收的电荷数与曝光时间的关系；步骤3：通过定标实验获取不同黑体温度对应的电荷通量密度F，并且对黑体温度和电荷通量密度F进行线性拟合。使得辐射定标参数不再依赖于红外热像仪的曝光时间，有利于红外热像仪的快速定量化测量以及拓展红外定量测量的温度范围。 |
