漆包线底漆面漆层道次显微分析方法
基本信息
| 申请号 | CN202011089267.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112198027B | 公开（公告）日 | 2021-07-02 |
| 申请公布号 | CN112198027B | 申请公布日 | 2021-07-02 |
| 分类号 | G01N1/28;G01N1/32;G01N1/44;G01N1/34;G01N21/84;G01B11/06 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈志雄;叶立新;王鼎;周昌顺;王娟 | 申请（专利权）人 | 艾伦塔斯电气绝缘材料（铜陵）有限公司 |
| 代理机构 | 铜陵市嘉同知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 吴晨亮 |
| 地址 | 244000 安徽省铜陵市经济技术开发区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了漆包线底漆面漆层道次显微分析方法，它包括以下步骤：（1）、制备漆包线固定模；（2）、在金相研磨机上进行研磨，此时可在显微镜下观察清晰的界面图；（3）、用滴管吸取1滴面漆分层试剂，滴在铜线截面处，并放入烘箱中，处理后用流动水冲洗截面处，用纸巾擦干，在截面完全干燥情况下，在显微镜下观察即可；（4）、采用滴管吸取1滴底漆分层试剂在铜线截面处，放入烘箱中，处理后用流动水冲洗截面处，用纸巾擦干，在截面完全干燥情况下，在显微镜下观察即可。本发明的有益效果是可以分析涂覆过程道次厚薄导致的固化的差异，从而分析漆包线漆的性能差异，以及第一道次与铜材的接触厚度，从而判断附着力低下和丧失原因。 |
