一种太赫兹芯片的测试系统
基本信息
| 申请号 | CN202021668353.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213715385U | 公开（公告）日 | 2021-07-16 |
| 申请公布号 | CN213715385U | 申请公布日 | 2021-07-16 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 许奔;骆睿 | 申请（专利权）人 | 深圳市华讯方舟光电技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市威世博知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 黎坚怡 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区西乡街道臣田社区臣田工业区37栋404 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请公开了一种太赫兹芯片的测试系统，该测试系统包括：PCB板以及设置于PCB板上的测试电路与信号焊盘，太赫兹芯片绑定在PCB板上，且与测试电路连接；测试电路用于通过信号焊盘接收高频信号，并向太赫兹芯片输入测试信号，以对太赫兹芯片进行测试；其中，测试电路包括高频信号管脚，信号焊盘通过信号金线与高频信号管脚连接，信号金线的长度小于或等于0.5941mm，且信号金线的长度大于或等于0.4242mm。通过上述方式，本申请能够提高测试效率，降低成本。 |
