一种肖特基二极管及其制备方法
基本信息
申请号 | CN201910686549.3 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN110504330A | 公开(公告)日 | 2019-11-26 |
申请公布号 | CN110504330A | 申请公布日 | 2019-11-26 |
分类号 | H01L29/872(2006.01); H01L29/205(2006.01); H01L29/06(2006.01); H01L21/329(2006.01) | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 单亚东; 谢刚; 胡丹 | 申请(专利权)人 | 广微集成技术(深圳)有限公司 |
代理机构 | 苏州市港澄专利代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 广微集成技术(深圳)有限公司 |
地址 | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道松坪山新西路7号兰光科技大厦B209 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种肖特基二极管及其制备方法,属于半导体领域。肖特基二极管包括依次形成于衬底表面的镓极性GaN层、氮极性GaN层、钝化层;多个第一凹槽,其穿过钝化层、氮极性GaN层位于镓极性GaN层的上表面;第二凹槽,其穿过钝化层位于氮极性GaN层之中;第一阴极和第二阴极,其形成在第一凹槽之中并且形成为与镓极性GaN层电接触;阳极,其形成在第一阴极和第二阴极之间且与氮极性GaN层电接触;氧化镓,形成于第一凹槽内暴露出的镓极性GaN层、氮极性GaN层区域;氮氧化镓层,形成在第二凹槽内暴露出的氮极性GaN层区域。通过在阴极和镓极性GaN层与氮极性GaN层之间设置氧化镓,在阳极和氮极性GaN层之间设置氮氧化镓层可以显著降低肖特基二极管的漏电流。 |
