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一种适用于多种测量环境的特规测厚仪

基本信息

申请号 CN202120707661.3 申请日 -
公开（公告）号 CN214537698U 公开（公告）日 2021-10-29
申请公布号 CN214537698U 申请公布日 2021-10-29
分类号 G01B5/06（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 陈思聪 申请（专利权）人 上海华谊检验检测技术有限公司
代理机构 北京维正专利代理有限公司 代理人 温开瑞
地址 201100上海市闵行区园美路58号第1幢604室
法律状态 -

摘要

摘要 本申请涉及一种适用于多种测量环境的特规测厚仪，属于测量仪器的技术领域。其包括底座和可拆卸式安装在底座上的测厚仪主体，所述测厚仪主体内开设有测量槽，所述测量槽内固定有测量台，所述测量台上可拆卸式安装有测量垫件，所述测厚仪主体上设置有测量杆，所述测量杆靠近测量台的一端可拆卸式安装有测量件，所述测量件与测量垫件抵接在待测物的两侧用于测量待测物的厚度。本申请可以根据实际待测量的物件，更换不同的测量垫件和测量件，使其符合相应的测量标准，以使测厚仪可以在不同的环境中使用，提高测厚仪的通用性。