一种芯片数据访问测试系统及其工作方法
基本信息
| 申请号 | CN202110090282.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112946454A | 公开（公告）日 | 2021-06-11 |
| 申请公布号 | CN112946454A | 申请公布日 | 2021-06-11 |
| 分类号 | G01R31/28;G01R1/04 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 叶显;陶晶;周一鸣;吕中明;张龙;周迎亚;李沈飞;景枭;高思琪 | 申请（专利权）人 | 重庆秦嵩科技有限公司 |
| 代理机构 | 重庆千石专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 蔡春儒 |
| 地址 | 401120 重庆市渝北区仙桃街道数据谷中路103号第1-5层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明属于芯片测试技术领域，公开了一种芯片数据访问测试系统及其工作方法，通过第一气缸带动探针往上运动，首先抵接在凹槽内，避免了探针与芯片直接发生碰撞，虽然相比探针直接被气缸一次性往上推动与测试点A连接多了一个第二气缸带动针针沿着滑槽水平滑动和探针往测试孔伸缩的动作，但是却比电动丝杆这类设备的所花费的工序时间确是很大的缩短。因此本方案实现了在未大幅度的降低芯片连接速度的基础上，却避免了芯片在连接时发生撞伤的风险。 |
