一种低温下光学材料折射率的测量方法
基本信息
| 申请号 | CN201610899039.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106546560B | 公开（公告）日 | 2019-11-22 |
| 申请公布号 | CN106546560B | 申请公布日 | 2019-11-22 |
| 分类号 | G01N21/41（2006.01） | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 智喜洋; 胡建明; 王达伟 | 申请（专利权）人 | 浙江荣智博智能科技有限公司 |
| 代理机构 | 浙江杭知桥律师事务所 | 代理人 | 浙江荣智博智能科技有限公司 |
| 地址 | 311100 浙江省杭州市余杭区仓前街道绿汀路1号3幢115-6室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及光学系统成像和空间光学探测领域，公开了一种低温下光学材料折射率的测量方法。方法为：a.测量低温下真空温控室(2)的窗口对光线产生的偏折角Δw；b.测量低温下待测棱镜(24)的顶角α；c.确定待测棱镜(24)对光线产生最小偏向角的位置，并测出最小偏向角δ；d.计算待测棱镜(24)在所测低温和所测光源波长的环境下的低温折射率n。本发明可实现在30K～300K温度范围内的折射率高精度测量，测量精度可达到10‑4，可用于研究光学材料属性在低温下的变化规律，为空间光学系统的设计、优化、应用性能评估提供精确可靠的折射率数据，为光学材料特性研究提供有效的测试方法、手段和基础数据。 |
