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一种片内逻辑分析仪及芯片调试方法

基本信息

申请号	CN202110022556.0	申请日	-
公开（公告）号	CN112634801A	公开（公告）日	2021-04-09
申请公布号	CN112634801A	申请公布日	2021-04-09
分类号	G09G3/00;G09G3/36;G06F9/30	分类	教育；密码术；显示；广告；印鉴;
发明人	侯建桥	申请（专利权）人	北京集睿致远科技有限公司
代理机构	北京格允知识产权代理有限公司	代理人	张沫
地址	100176 北京市大兴区北京经济技术开发区文化园西路8号院1号楼5层612-1A
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种片内逻辑分析仪及芯片调试方法，涉及电子技术领域。该片内逻辑分析仪的一具体实施方式包括：触发及采样模块，与被调试芯片的顺序输出模块连接，用于对顺序输出模块输出的GPIO信号进行判断，并在满足触发条件时对GPIO信号进行数据采样；存储及传输模块，用于将触发及采样模块采集的采样数据存储到被调试芯片的RAM；并将片内逻辑分析仪的调试状态写入寄存器；以及，在上位机读取采样数据时，将采样数据从RAM搬运到寄存器；通讯及指令解码模块，与被调试芯片的AUX通道编解码模块连接，用于建立与上位机进行通讯的数据通道。该实施方式能在不拆开液晶屏的前提下，测量TCON芯片输出的GPIO信号，并进行调试。