一种解决磁控溅射生长氧化钒薄膜颗粒的工艺方法
基本信息
申请号 | CN202111204291.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113930741A | 公开(公告)日 | 2022-01-14 |
申请公布号 | CN113930741A | 申请公布日 | 2022-01-14 |
分类号 | C23C14/56(2006.01)I;B08B7/00(2006.01)I;C23C14/08(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I | 分类 | 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制〔2〕; |
发明人 | 宋永辉;王世宽;蔡浩杰 | 申请(专利权)人 | 无锡尚积半导体科技有限公司 |
代理机构 | 江苏智天知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈文艳 |
地址 | 214000江苏省无锡市新吴区长江南路35-312号厂房 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种解决磁控溅射生长氧化钒薄膜颗粒的工艺方法,针对由于高价态氧化钒掉落衬底导致氧化钒薄膜良率不达标的问题,提供了以下技术方案,步骤1,将衬底从真空室中移出,气嘴停止供氧气;步骤2,利用溅射电源,向靶材施加高频电力,以使靶材向真空室内溅射钒离子;步骤3,利用外力,将步骤2中的钒离子引导朝向真空室内的屏蔽件和气嘴的方向移动,并使钒离子附着在屏蔽件和气嘴上。利用纯钒的粘性,使高价态的氧化钒在气嘴和屏蔽件上固定牢固,不易掉落至氧化钒薄膜上,从而使氧化钒薄膜的钒元素的含量在可控的范围内,提高氧化钒薄膜的良率。 |
