一种X射线系统的辐射剂量数值计算方法
基本信息
| 申请号 | CN202011628292.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112835088A | 公开（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申请公布号 | CN112835088A | 申请公布日 | 2021-05-25 |
| 分类号 | G01T1/02 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王同乐 | 申请（专利权）人 | 德润特医疗科技（武汉）有限公司 |
| 代理机构 | 宁波甬致专利代理有限公司 | 代理人 | 张庆龙 |
| 地址 | 430079 湖北省武汉市东湖高新技术开发区光谷三路777号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种X射线系统的辐射剂量数值计算方法，包括：测定不同管电压下的X射线谱数据；对X射线谱与管电压的关系进行数据拟合；计算在不同厚度、不同材质的滤过介质下衰减后的X射线谱；计算X射线照射剂量；计算当前曝光下的单位电流时间积的X射线吸收剂量；通过X射线吸收剂量与管电流、曝光时间的关系，计算X射线累积剂量；通过外部剂量计测定实际剂量，计算当前管电压下的校准系数；计算不同管电压下的系列校准系数；对于固定靶材的X射线源，变更曝光条件计算原始剂量，再经过校准系数完成校准得到数值计算剂量；根据选择实际源像距与校准源像距的关系，及受照面大小，计算得到面积辐射剂量积数据。 |
