一种芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201811099670.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109031102B | 公开（公告）日 | 2021-03-30 |
| 申请公布号 | CN109031102B | 申请公布日 | 2021-03-30 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 夏俊生;李寿胜;侯育增;尤广为;李波;李文才 | 申请（专利权）人 | 安徽北方微电子研究院集团有限公司 |
| 代理机构 | 安徽省蚌埠博源专利商标事务所（普通合伙） | 代理人 | 杨晋弘 |
| 地址 | 233030安徽省蚌埠市经济开发区汤和路2016号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种芯片测试装置，其特征在于：它包括基板（1），在基板（1）上设有一组连接槽（2），在基板（1）上还设有接口焊盘（3）；设置转接板（4），在转接板（4）下表面设有与连接槽（2）对应配合的插块（7），在转接板上表面设有芯片定位槽（5），在定位槽（5）内设有一组测试凸块（6）。本发明具有结构简单，制造成本低廉，使用方便，芯片PAD区连接电阻低，检测时不会对芯片造成损伤等优点。 |
