一种用于多存储芯片测试的方法
基本信息
| 申请号 | CN201910150254.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109920467A | 公开（公告）日 | 2019-06-21 |
| 申请公布号 | CN109920467A | 申请公布日 | 2019-06-21 |
| 分类号 | G11C29/10（2006.01）I; G11C29/56（2006.01）I | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 奚留华; 张凯虹; 徐德生; 常艳昭; 苏洋 | 申请（专利权）人 | 无锡中微腾芯电子有限公司 |
| 代理机构 | 无锡市大为专利商标事务所（普通合伙） | 代理人 | 无锡中微腾芯电子有限公司 |
| 地址 | 214035 江苏省无锡市新吴区长江路21号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及集成电路测试技术领域，具体公开了一种用于多存储芯片测试的方法，其中，所述用于多存储芯片测试的方法包括：根据ATE测试系统建立存储刷新方式；根据所述存储刷新方式，以同一功能码结合多个输入交流参数实现并行输入测试；根据所述存储刷新方式，以同一功能码结合多个输出交流参数实现并行输出测试。本发明提供的用于多存储芯片测试的方法很好地实现了叠层大容量存储器的高效测试，缩减了测试时间。 |
