一种数模混合集成电路测试装置及测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202110667196.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113238145A | 公开（公告）日 | 2021-08-10 |
| 申请公布号 | CN113238145A | 申请公布日 | 2021-08-10 |
| 分类号 | G01R31/3167（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 唐彩彬;奚留华;张凯虹;孙恺凡;虞勇坚;解维坤;韩新峰;陆亚兵;刘波 | 申请（专利权）人 | 无锡中微腾芯电子有限公司 |
| 代理机构 | 无锡市大为专利商标事务所（普通合伙） | 代理人 | 殷红梅;陈丽丽 |
| 地址 | 214013江苏省无锡市新吴区长江路21号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及集成电路测试技术领域，具体公开了一种数模混合集成电路测试装置，其中，包括：测试系统、DUT板、针卡板和探针台，DUT板安装在测试系统上，针卡板安装在探针台上，探针台设置在测试系统内，DUT板通过针卡板与探针台电连接，DUT板能够承载被测集成电路数字模块和被测集成电路模拟模块；测试系统用于存储并提供测试资源；探针台能够获取测试系统内的测试资源；DUT板能够通过针卡板获取所述测试资源，以实现对被测集成电路数字模块和被测集成电路模拟模块的单独测试。本发明提供的数模混合集成电路测试方法。本发明提供的数模混合集成电路测试装置提高了测试效率，降低了测试成本。 |
