一种集成电路测试数据的筛选方法及装置
基本信息
| 申请号 | CN201711280543.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108037433B | 公开（公告）日 | 2021-05-04 |
| 申请公布号 | CN108037433B | 申请公布日 | 2021-05-04 |
| 分类号 | G01R31/26 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 奚留华 | 申请（专利权）人 | 无锡中微腾芯电子有限公司 |
| 代理机构 | 无锡市大为专利商标事务所（普通合伙） | 代理人 | 殷红梅 |
| 地址 | 214135 江苏省无锡市滨湖区惠河路5号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种集成电路测试数据的筛选方法，其中，包括获取集成电路测试数据；计算各测试参数中的最大值与最小值之间的差值；计算每个测试参数的片平均值和批平均值；计算片平均值与批平均值的片相差百分比；计算各测试参数的总平均值以及批平均值与总平均值的批相差百分比；判断每个测试参数的片相差百分比是否大于百分比阈值以及批相差百分比是否大于百分比阈值；若是，则将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记，和/或，则将该批相差百分比对应的测试参数批号进行标记。本发明还公开了一种集成电路测试数据的筛选装置。本发明提供集成电路测试数据的筛选方法，提高了数据筛选的效率。 |
