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一种荧光检测系统

基本信息

申请号 CN202210182976.X 申请日 -
公开（公告）号 CN114544575A 公开（公告）日 2022-05-27
申请公布号 CN114544575A 申请公布日 2022-05-27
分类号 G01N21/64（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 张超;黄宝福 申请（专利权）人 威高（苏州）医疗器械研究院有限公司
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 -
地址 215163江苏省苏州市高新区科灵路88号
法律状态 -

摘要

摘要 本申请公开了一种荧光检测系统，涉及荧光检测领域。本申请所提供的荧光检测系统，包括：激发光源、透镜、用于放置样品的待检区域、荧光成像系统，还包括：平面反射装置；激发光源、透镜、平面反射装置、荧光成像系统、待检区域依次放置，且共光轴；平面反射装置关于光轴对称放置；待检区域接收平面反射装置反射的光来激发待检区域放置的样品产生荧光；荧光成像系统通过荧光对待检区域放置的样品进行荧光成像。该系统中，平面反射装置关于光轴对称放置，将激发光源发出的光束分为多束关于光轴对称分布的光路，并将光反射至待检区域，从而在待检区域形成均匀的光斑，解决了传统的离轴倾斜照明光照不均匀的问题，提高了荧光检测的准确性。