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反光膜逆反射测量仪

基本信息

申请号 CN202121113002.3 申请日 -
公开（公告）号 CN215678092U 公开（公告）日 2022-01-28
申请公布号 CN215678092U 申请公布日 2022-01-28
分类号 G01N21/55（2014.01）I;G01N21/01（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 郎彦宇;李金涛 申请（专利权）人 北京京衢科技有限责任公司
代理机构 北京市鼎立东审知识产权代理有限公司 代理人 朱慧娟;陈佳妹
地址 102400北京市房山区辰光东路16号院4号楼9层908
法律状态 -

摘要

摘要 本申请涉及一种反光膜逆反射测量仪，包括：光学壳体、光源组件、第一光纤准直镜、传感器、半透半反镜和凸透镜组件；光源组件和第一光纤准直镜均设置在光学壳体外并位于光学壳体的顶部；光源组件包括光源和第二光纤准直镜；第二光纤准直镜的通光口朝向光源，第二光纤准直镜的光纤接口通过光纤与第一光纤准直镜的光纤接口相连接，且第一光纤准直镜的通光口朝向光学壳体的内腔；半透半反镜和凸透镜组件均安装在光学壳体内；其中，半透半反镜位于第一光纤准直镜的下方，凸透镜组件位于光源组件侧；传感器设置在光学壳体外，与半透半反镜相邻；且光学壳体中处于传感器与半透半反镜之间的侧壁开设有通光孔。其有效提高了反光膜的逆反射测量的准确度。