一种可拾取及测试的微器件
基本信息
申请号 | CN202022817889.6 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN213401206U | 公开(公告)日 | 2021-06-08 |
申请公布号 | CN213401206U | 申请公布日 | 2021-06-08 |
分类号 | H01L27/15;H01L21/66;H01L21/67 | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 谈江乔;柯志杰;艾国齐;刘鉴明;江方 | 申请(专利权)人 | 厦门乾照半导体科技有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 361001 福建省厦门市火炬高新区(翔安)产业区翔天路267号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型提供了可拾取及测试的微器件,通过:在所述沟槽表面设有第一牺牲层,各所述测试电极于所述沟槽对应的第一牺牲层上方间隔分布,且远离所述LED芯粒而设置;还包括与所述测试电极呈交叉分布的若干个金属桥,所述金属桥用于串联相邻两个LED芯粒的电极,且所述金属桥与所述相邻两个LED芯粒对应沟槽处的测试电极形成连接;所述第二牺牲层包覆各所述LED芯粒使其形成独立的包覆单元;从而,实现LED芯粒与测试结构的一体化,同时达到LED芯粒排列与分选的目的,以确保后续测试及转移过程的完美衔接。 |
