一种光源检测方法及检测装置
基本信息
| 申请号 | CN201510443746.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106370396B | 公开（公告）日 | 2019-02-15 |
| 申请公布号 | CN106370396B | 申请公布日 | 2019-02-15 |
| 分类号 | G01M11/02 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 夏俊 | 申请（专利权）人 | 深圳市安普盛科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳中一专利商标事务所 | 代理人 | 深圳市安普盛科技有限公司 |
| 地址 | 518000 广东省深圳市南山区科技园高新中二道5号生产力大楼B座6楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明适用于光学检测技术领域，提供了一种光源检测方法，包括：使待检测光源通过小孔成像镜头形成倒立实像；图像传感器接收倒立实像并将光信号转换为图像数字信号，获得待处理图像；对待处理图像进行离散傅里叶变换获得特征频谱信息；基于特征频谱信息进行图像重构；对重构图像数字信号进行特征图像分割抽取得到特征子图像；将特征子图像和待处理图像做滤波运算处理，输出特性特征矩阵；对特性特征矩阵进行变换得到待检测光源的特性信息。本发明利用小孔成像镜头进行成像，小孔成像具有光通量小、无限景深、自动变焦的特点，可有效解决过曝光问题且降低对图像传感器位置的精确要求；通过特征频谱信息提取和图像重构可消除干扰，提高抗干扰性。 |
