基于非接触式高精度的光纤位移计

基本信息

申请号 CN202120845824.4 申请日 -
公开(公告)号 CN214792996U 公开(公告)日 2021-11-19
申请公布号 CN214792996U 申请公布日 2021-11-19
分类号 G01B11/02(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 刘昌霞;钟少龙;李健 申请(专利权)人 上海拜安传感技术有限公司
代理机构 上海秋冬专利代理事务所(普通合伙) 代理人 张媛媛
地址 201210上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区蔡伦路150号4号楼4楼
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及一种基于非接触式高精度的光纤位移计,属于光学技术领域,测量组件,用于高精度非接触式测量;底壳,用于安装测量组件;连接组件,一端与测量组件相连,另一端贯穿底壳并与其滑动连接,用于与被测量物体接触。本实用新型采用光纤相干光学的原理做光纤位移计,可以充分发挥光纤相干传感器高精度测距的优势,可以实现±0.2um的测量精度,在工业应用领域中,实现结构小型化,方便安装;不会在使用过程中断纤、抗震动,实现位移传感器的长期可靠性。