一种TO测试底座
基本信息
| 申请号 | CN202022015690.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212965228U | 公开（公告）日 | 2021-04-13 |
| 申请公布号 | CN212965228U | 申请公布日 | 2021-04-13 |
| 分类号 | G01R31/00(2006.01)I;G01M11/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王永虎;刘倚红 | 申请（专利权）人 | 武汉敏芯半导体股份有限公司 |
| 代理机构 | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 | 代理人 | 许美红 |
| 地址 | 430014湖北省武汉市东湖新技术开发区金融港四路18号普天物联网创新研发基地(一期)1栋3层02室03号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种TO测试底座，该测试底座包括5个测试孔，5个测试孔呈正五边形排列，其中1个测试孔为长测试孔，其余4个测试孔为圆测试孔；或其中4个测试孔为圆测试孔，呈等腰梯形排列，第5个测试孔为长测试孔，位于等腰梯形下底的中点处。此外，所有测试孔的孔径均远大于LD‑TO的管脚直径，测试底座内部的测试孔呈倒圆台或倒圆锥形；长测试孔为长圆形、长椭圆形或长条形。本实用新型的测试底座能够兼容现有的两种测试底座，适用这两种LD‑TO的测试和老化，节省生产成本。 |
