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一种基于ARM处理器的双脉冲测试系统

基本信息

申请号 CN202021457474.6 申请日 -
公开（公告）号 CN212932853U 公开（公告）日 2021-04-09
申请公布号 CN212932853U 申请公布日 2021-04-09
分类号 G01R31/26 分类 测量；测试;
发明人 杨成;何雄;孙利娟;熊先平;张玉龙 申请（专利权）人 湖北英特利电气有限公司
代理机构 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 代理人 朱玲艳
地址 431960 湖北省荆门市钟祥市南湖新区协企联盟产业园C3栋
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及一种基于ARM处理器的双脉冲测试系统，包括：上位机，用于提供控制信号；控制器，用于根据所述控制信号控制高分辨率计时器生成第一脉冲信号和第二脉冲信号；驱动装置，用于对所述第一脉冲信号进行功率放大处理得到第一放大脉冲信号、对所述第二脉冲信号进行功率放大处理得到第二放大脉冲信号；电平转换装置，用于将所述第一放大脉冲信号转换成高电平的第一输出脉冲信号、将所述第二放大脉冲信号转换成高电平的第二输出脉冲信号。本实用新型在有限主频的前提下，通过高分辨率计时器仍能提供需求的脉冲精度，同时本实用新型提供的脉冲信号经过放大、电平转换处理，具有更强的抗干扰能力。