一种集成电路测试用操作的检测平台
基本信息
申请号 | CN201820139127.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN207832963U | 公开(公告)日 | 2018-09-07 |
申请公布号 | CN207832963U | 申请公布日 | 2018-09-07 |
分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 汤学李;刘小伟 | 申请(专利权)人 | 深圳市兴隽光电科技有限公司 |
代理机构 | 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 | 代理人 | 深圳市兴隽光电科技有限公司 |
地址 | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道科技园高新南六道泰邦科技大厦1903 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了一种集成电路测试用操作的检测平台,包括底座,所述底座的上表面分别与两个固定板的下表面固定连接,且两个固定板的相对面分别与驱动装置的两侧面固定连接,所述驱动装置与第二锥齿轮啮合,所述第二锥齿轮卡接在螺纹筒的外表面,所述螺纹筒的外表面套接有轴承,所述轴承卡接在支撑板的左侧面,所述支撑板的右侧面与侧板的左侧固定连接。该集成电路测试用操作的检测平台,通过驱动装置、第二锥齿轮、螺纹筒、轴承、螺纹柱、第一连接块、连接杆、第二连接块、伸缩装置、连接板和滑块的相互配合,从而使得工作人员不会因为长时间的工作给身体带来负担,提高了工作人员的工作效率,方便了工作人员的工作。 |
