一种精准测量片上电容比例的电路和方法
基本信息
| 申请号 | CN202110791649.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113472351A | 公开（公告）日 | 2021-10-01 |
| 申请公布号 | CN113472351A | 申请公布日 | 2021-10-01 |
| 分类号 | H03M1/10（2006.01）I;H03M3/00（2006.01）I | 分类 | 基本电子电路; |
| 发明人 | 李小勇;李威 | 申请（专利权）人 | 上海料聚微电子有限公司 |
| 代理机构 | 杭州创信知识产权代理有限公司 | 代理人 | 杨燕霞 |
| 地址 | 201210上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区祖冲之路1077号2幢1185-A室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种精准测量片上电容比例的电路和方法，所述电路包括待测量DAC、求和模块、积分器、量化器和调制DAC模块，其中所述求和模块、所述积分器、所述量化器和所述调制DAC模块构成ΣΔ模拟调制器；所述求和模块的第一输入端连接所述待测量DAC的输出端，所述求和模块的第二输入端连接所述调制DAC模块的输出端，所述求和模块的输出端连接所述积分器的输入端，所述积分器的输出端连接所述量化器的输入端，所述量化器的输出端用于产生输出码流，并连接所述调制DAC模块的控制端。 |
