基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法

基本信息

申请号	CN202010777849.5	申请日	-
公开（公告）号	CN114063193A	公开（公告）日	2022-02-18
申请公布号	CN114063193A	申请公布日	2022-02-18
分类号	G01V13/00（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	赵荣华;张威;贾会冲;曹桐生;赵兰;王路;丁烽娟	申请（专利权）人	中国石油化工股份有限公司华北油气分公司
代理机构	郑州睿信知识产权代理有限公司	代理人	史萌杨
地址	100728北京市朝阳区朝阳门北大街22号
法律状态	-

摘要

本发明属于石油天然气勘探开发技术领域，具体涉及一种基于LLD和GR联合刻度的致密砂岩密度测井曲线校正方法。该方法首先确定砂岩段的深度；然后确定砂岩段的非扩径段和扩径段；接着对非扩径段的实测数据进行回归分析，所述实测数据包括实测密度数据以及对应深度的实测深侧向电阻率、实测自然伽马值，得到非扩径段关系模型，并将非扩径段关系模型作为扩径段关系模型；最后根据扩径段的深侧向电阻率测井曲线和自然伽马测井曲线，以及扩径段关系模型，得到扩径段校正后的密度测井曲线。本发明确定的地层密度更准确，更接近真实的地层密度测井值。该方法可操作性强，影响因素小，校正准确度高，可以提高油气田勘探和开发中致密砂岩气层识别成功率。