一种双探针的纳米测量仪器
基本信息
| 申请号 | CN202010177815.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111238373A | 公开（公告）日 | 2020-06-05 |
| 申请公布号 | CN111238373A | 申请公布日 | 2020-06-05 |
| 分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 苏全民;陈庚亮 | 申请（专利权）人 | 深圳明锐仪器有限公司 |
| 代理机构 | 北京棘龙知识产权代理有限公司 | 代理人 | 戴丽伟 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙岗区龙城街道黄阁坑社区龙飞大道333号启迪协信4栋520 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种双探针的纳米测量仪器，包括测量器主体；所述测量器主体的前端设有第一探针、第二探针；所述第一探针用于探测外部环境干扰下的被测物体的信号；所述第二探针用于探测被测物体的附近环境的干扰信号；本发明的有益效果在于：本设计采用了双探针，一个探针探测外部环境干扰下的被测物体的信号，另一个探测被测物体的附近环境的干扰信号，通过计算出两个信号数值，最后两个数值相减，得到的数值就是被测物体的数值；让纳米测量系统省去了传统的封闭坏镜设备，且能够测量大型的被测物体。 |
