一种用于LED芯片测试设备的磨针装置

基本信息

申请号 CN201921139448.6 申请日 -
公开(公告)号 CN210335477U 公开(公告)日 2020-04-17
申请公布号 CN210335477U 申请公布日 2020-04-17
分类号 B24B27/033;G01R1/067 分类 磨削;抛光;
发明人 王永胜;杨中和;周勇毅;施松刚;边迪斐 申请(专利权)人 浙江老鹰半导体技术有限公司
代理机构 杭州裕阳联合专利代理有限公司 代理人 浙江老鹰半导体技术有限公司
地址 311800 浙江省绍兴市诸暨市陶朱街道展诚大道82号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种用于LED芯片测试设备的磨针装置,用以打磨LED芯片测试设备的探针,所述磨针装置包括固定架以及固定于所述固定架的磨石,所述固定架固定于LED芯片测试设备中的移动底座,移动底座移动带动所述固定架上的磨石打磨LED芯片测试设备的探针。本实用新型在现有的LED芯片测试设备上设计出打磨探针的装置,可实现设备自动打磨探针减缓针尖氧化,以提高设备利用率,减少探针损耗。