一种芯片产品测试规范的制定方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN201811316958.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109471015B | 公开（公告）日 | 2021-07-20 |
| 申请公布号 | CN109471015B | 申请公布日 | 2021-07-20 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张晓晶;陈岚 | 申请（专利权）人 | 佛山中科芯蔚科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王宝筠 |
| 地址 | 528200 广东省佛山市南海区桂城街道深海路17号瀚天科技城A区7号楼一楼104单元 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种芯片产品测试规范的制定方法，包括：获取目标产品包含的各个待测试分产品；解析每一个待测试分产品包含的各个测试参数，确定与每一个测试参数对应的初始极值和偏移量极值；依据所述初始极值和所述偏移量极值，确定每一个测试参数的测试标准极值；将各个测试标准极值分配给对应的待测试分产品，完成所述目标产品测试规范的制定。上述的制定方法，集中确定各个待测试分产品的测试标准极值，将各个测试标准极值分配给对应的待测试分产品，完成所述目标产品测试规范的制定，一个芯片产品只对应一个测试规范，避免了需要为每一个分产品制定测试规范，一个芯片产品对应多个测试规范，导致数据处理工作量大的问题。 |
